Nell'esperimento di analisi delle fasi fragili mediante diffrazione di raggi X (XRD), la posizione e l'intensità dei picchi di diffrazione possono essere determinate attraverso i seguenti metodi:

Determinazione della posizione dei picchi di diffrazione

 

Calcolo basato sull'equazione di Bragg: Secondo l'equazione di Bragg, dove è un numero intero, è la lunghezza d'onda dei raggi X, è la spaziatura interplanare ed è l'angolo di diffrazione. Data la lunghezza d'onda dei raggi X nota e l'angolo di diffrazione misurato sperimentalmente, è possibile calcolare la spaziatura interplanare, quindi determinare i corrispondenti piani cristallini dei picchi di diffrazione, ottenendo così la posizione dei picchi di diffrazione. Diverse fasi fragili hanno strutture cristalline specifiche e spaziature interplanari. Confrontando le spaziature interplanari calcolate con i dati standard noti, può aiutare a identificare le fasi fragili.

Confronto con le carte standard: Utilizzare database standard come le schede Powder Diffraction File (PDF) dell'International Center for Diffraction Data (ICDD). Confrontare i modelli XRD ottenuti dall'esperimento con le posizioni dei picchi di diffrazione nelle carte standard per trovare le fasi cristalline corrispondenti, determinando così le fasi cristalline corrispondenti alle posizioni dei picchi di diffrazione e i corrispondenti parametri cristallografici.

Analisi utilizzando software professionale: Con l'aiuto di software di analisi XRD professionale, come Jade, HighScore Plus, ecc. Questi software possono identificare e contrassegnare automaticamente le posizioni dei picchi di diffrazione. Eseguendo l'elaborazione di ricerca dei picchi sui modelli, è possibile determinare con precisione i valori dell'angolo di ciascun picco di diffrazione e quindi identificare i corrispondenti piani cristallini e le fasi cristalline.

 

 

 

 

 

 

 

NV F500 proprietà di resistenza generale estremamente elevata
Grado		Proprietà meccanica			Prova di impatto Charpy V
	Spessore	Prodotto	Trazione	Allungamento	Grado	Energia 1	Energia 2
NVF500	millimetro	Min Mpa	MPa	% minima	-60	J	J
	t Inferiore o uguale a 50	500	610-770	16%		33	50
	50＜t Inferiore o uguale a 70	500	610-770	16%		33	50
	70＜t Inferiore o uguale a 150	500	610-770	16%		33	50

 

 

Determinazione dell'intensità dei picchi di diffrazione

 

Misurazione diretta: Leggere i valori di intensità dei picchi di diffrazione direttamente dal pattern XRD. L'ordinata nel modello rappresenta solitamente l'intensità di diffrazione, espressa in unità come velocità di conteggio o intensità relativa. Durante la misurazione, è necessario selezionare un intervallo di misurazione appropriato ed eseguire la correzione della linea di base per garantire l'accuratezza dei valori di intensità. Generalmente, l'altezza o l'area integrata del picco di diffrazione può essere utilizzata come misura della sua intensità, ma l'area integrata può riflettere in modo più accurato l'intensità del picco di diffrazione, specialmente per picchi di diffrazione allargati o asimmetrici.

Calcolo dell'intensità relativa: Calcola l'intensità relativa tra diversi picchi di diffrazione. L'intensità relativa si riferisce al rapporto tra l'intensità di un determinato picco di diffrazione e l'intensità del picco di diffrazione più forte. Confrontando le intensità relative dei diversi picchi di diffrazione, la struttura cristallina e le informazioni sulla composizione delle fasi fragili possono essere analizzate in modo più accurato, poiché le diverse fasi cristalline hanno leggi di distribuzione specifiche dell'intensità relativa dei picchi di diffrazione.

Considerando l'influenza dei fattori sperimentali: Quando si determina l'intensità dei picchi di diffrazione, è necessario considerare l'influenza delle condizioni sperimentali sull'intensità, come l'intensità dei raggi X, il metodo di preparazione del campione, lo spessore del campione e i parametri geometrici dello strumento. Per ottenere dati di intensità accurati e affidabili, è necessario effettuare misurazioni multiple nelle stesse condizioni sperimentali e calcolare la media dei dati per ridurre l'influenza degli errori sperimentali.

 

 

 

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